%0 Journal Article %T ارزیابی قابلیت اطمینان مبدل‌های الکترونیک قدرت مبتنی بر شبکه‌های عصبی تکثیر کننده %J علوم، فناوری و کاربردهای فضایی %I پژوهشگاه فضایی ایران- انجمن هوافضای ایران %Z 2783-4557 %A امجدی فرد, رضا %A باقراسکوئی, فرهاد %D 2024 %\ 02/20/2024 %V 3 %N 2 %P 1-12 %! ارزیابی قابلیت اطمینان مبدل‌های الکترونیک قدرت مبتنی بر شبکه‌های عصبی تکثیر کننده %K تخمین طول عمر مفید باقیمانده %K کلیدهای قدرت نیمه هادی %K شبکه‌های عصبی %K تشخیص ناهنجاری %R 10.22034/jssta.2023.348730.1088 %X سنجش قابلیت اطمینان مبدل‌های الکترونیک قدرت به دلیل عملکرد آنها تحت تنش‌های حرارتی و الکتریکی، اهمیت زیادی داشته و نیازمند کمی‌سازی است. محیط فضا به دلیل دامنه و سرعت زیاد تغییرات دما از جمله محیطهای پرتنش برای قطعات و تجهیزات الکترونیکی است. عملکرد هنجار یا ناهنجار یک مبدل براساس شرایط محیطی، ساخت و بهره‌برداری تعیین می‌شود. شاخص‌های خرابی فعلی تنها مبتنی بر داده‌های خرابی‌های قبلی بوده و بر اساس اطلاعات تاریخچه عملکرد مبدل محاسبه می‌شوند که فرآیند پیرشدگی به شدت بر آنها اثرگذار است. در این مقاله، با کمک داده‌های حاصل از پایش وضعیت مبدل به صورت زمان واقعی شاخصی جدید معرفی می‌شود. هر مبدل با استفاده از شبکه‌های عصبی تکثیرکننده مدلسازی شده و ضریب بازسازی شبکه یا خطای بازسازی به عنوان شاخص پایایی یا ضریب ناهنجاری مبدل لحاظ خواهد شد. در حقیقت، سنجش قابلیت اطمینان مبتنی بر قیاسِ بین یک مدلِ مرجع از شرایط سلامت مبدل و عملکرد ناهنجار آن در آینده صورت می‌پذیرد. در روش پیشنهادی یک تابع توزیع نرمال بر روی سیگنال خطای بازسازی شده، برازش و درصد فاصله آنها به عنوان ضریب ریسک ناهنجاری معرفی می-شود. مزایای این روش عبارتند از لحاظ نمودن تمامی عدم قطعیت‌ها در فرآیند ساخت کلید قدرت و شرایط کاری آن، عدم نیاز به فرآیند آزمون پیرشدگی در تهیه داده خرابی و لحاظ نمودن تمامی خرابی‌ها. در زیرسیستم توان الکتریکی فضاپیماها می توان با استفاده از روش فوق، قابلیت اطمینان مبدل های الکترونیک قدرت را بر اساس داده های اخذ شده از نمونه های کیفی ارزیابی نمود. %U https://journal.isrc.ac.ir/article_167069_fa10dc2c63dcbe8f1c7e0cce26771e70.pdf